Röntgenfluoreszenzspektrometer
Amt für Qualität und technische Überwachung (Umweltrichtlinie)
RoHS/Rohs (China)/ELF/EN71
Spielzeug
Papier, Keramik, Farbe, Metall usw.
Elektrische und elektronische Materialien
Halbleiter, magnetische Materialien, Lot, elektronische Teile usw.
Stahl, Buntmetalle
Legierungen, Edelmetalle, Schlacken, Erze usw.
Chemieindustrie
Mineralische Produkte, Chemiefasern, Katalysatoren, Beschichtungen, Farben, Kosmetik usw.
Umgebung
Boden, Lebensmittel, Industrieabfälle, Kohlepulver
Öl
Öl, Schmieröl, Schweröl, Polymer usw.
andere
Schichtdickenmessung, Kohle, Archäologie, Materialforschung und Forensik, etc..
● Drei verschiedene Arten von Röntgenstrahlen-Sicherheitssystemen, Software-Sperren, Hardware-Sperren und mechanische Sperren, eliminieren Strahlungsverluste unter allen Arbeitsbedingungen vollständig.
● Der XD-8010 verfügt über einen einzigartig gestalteten optischen Pfad, der die Abstände zwischen Röntgenquelle, Probe und Detektor minimiert und gleichzeitig die Flexibilität zum Umschalten zwischen einer Vielzahl von Filtern und Kollimatoren beibehält.Dadurch wird die Sensitivität deutlich verbessert und die Nachweisgrenze gesenkt.
● Die großvolumige Probenkammer ermöglicht die direkte Analyse großer Proben ohne Beschädigung oder Vorbehandlung.
● Einfache Analyse mit nur einem Knopfdruck über eine komfortable und intuitive Softwareoberfläche.Für die grundlegende Bedienung des Instruments ist keine professionelle Ausbildung erforderlich.
● Der XD-8010 bietet eine schnelle Elementaranalyse von Elementen von S bis U mit einstellbaren Analysezeiten.
● Bis zu 15 Kombinationen von Filtern und Kollimatoren.Es stehen Filter verschiedener Dicken und Materialien sowie Kollimatoren von 1 mm bis Φ7 mm zur Verfügung.
● Die leistungsstarke Berichtformatierungsfunktion ermöglicht eine flexible Anpassung der automatisch generierten Analyseberichte.Die generierten Berichte können im PDF- und Excel-Format gespeichert werden.Die Analysedaten werden nach jeder Analyse automatisch gespeichert. Auf historische Daten und Statistiken kann jederzeit über eine einfache Abfrageoberfläche zugegriffen werden.
● Mit der Probenkamera des Geräts können Sie die Position der Probe relativ zum Fokus der Röntgenquelle beobachten.Bilder der Probe werden zu Beginn der Analyse aufgenommen und können im Analysebericht angezeigt werden.
● Das Spektrenvergleichstool der Software ist für qualitative Analysen und Materialidentifizierung und -vergleiche nützlich.
● Durch den Einsatz bewährter und effektiver Methoden der qualitativen und quantitativen Analyse kann die Richtigkeit der Ergebnisse sichergestellt werden.
● Die offene und flexible Anpassungsfunktion für die Kalibrierungskurve ist für eine Vielzahl von Anwendungen nützlich, z. B. für die Erkennung von Schadstoffen.
Schadelementanalysemethode
Gefahrstoffe | Beispiel | |
Screening-Analyse | Detaillierte Analyse | |
Hg | Röntgenspektroskopie | AAS |
Pb | ||
Cd | ||
Cr6 + | Röntgenspektroskopie (Analyse des gesamten Cr) | Ionenchromatographie |
PBBs / PBDEs | Röntgenspektroskopie (Analyse des Gesamtbr) | GC-MS |
Qualitätsmanagementprozess
Messung schädlicher Spurenelemente in Polyethylenproben wie Cr, Br, Cd, Hg und Pb.
• Die Differenz zwischen den angegebenen Werten und den tatsächlichen Werten von Cr, Br, Cd, Hg und Pb.
Die Differenz zwischen den angegebenen Werten und den tatsächlichen Werten von Cr, (Einheit: ppm)
Probe | Gegebener Wert | Tatsächlicher Wert (XD-8010) |
Leer | 0 | 0 |
Probe 1 | 97,3 | 97,4 |
Probe 2 | 288 | 309.8 |
Probe 3 | 1122 | 1107.6 |
Die Differenz zwischen den angegebenen Werten und den tatsächlichen Werten von Br, (Einheit: ppm)
Probe | Gegebener Wert | Tatsächlicher Wert (XD-8010) |
Leer | 0 | 0 |
Probe 1 | 90 | 89,7 |
Probe 2 | 280 | 281.3 |
Probe 3 | 1116 | 1114.1 |
Die Differenz zwischen den angegebenen Werten und den tatsächlichen Werten von Cd, (Einheit: ppm)
Probe | Gegebener Wert | Tatsächlicher Wert (XD-8010) |
Leer | 0 | 0 |
Probe 1 | 8,7 | 9,8 |
Probe 2 | 26,7 | 23.8 |
Probe 3 | 107 | 107,5 |
Die Differenz zwischen den angegebenen Werten und den tatsächlichen Werten og Hg, (Einheit: ppm)
Probe | Gegebener Wert | Tatsächlicher Wert (XD-8010) |
Leer | 0 | 0 |
Probe 1 | 91,5 | 87,5 |
Probe 2 | 271 | 283.5 |
Probe 3 | 1096 | 1089,5 |
Die Differenz zwischen den angegebenen Werten und den tatsächlichen Werten von Pb, (Einheit: ppm)
Probe | Gegebener Wert | Tatsächlicher Wert (XD-8010) |
Leer | 0 | 0 |
Probe 1 | 93,1 | 91,4 |
Probe 2 | 276 | 283,9 |
Probe 3 | 1122 | 1120.3 |
Die wiederholten Messdaten der Probe 3 Cr1122ppm, Br116ppm, Cd10ppm, Hg1096ppm, Pb1122ppm (Einheit: ppm)
Cr | Br | Cd | Hg | Pb | |
1 | 1128.7 | 1118,9 | 110,4 | 1079,5 | 1109.4 |
2 | 1126.2 | 1119,5 | 110.8 | 1072,4 | 1131.8 |
3 | 1111.5 | 1115.5 | 115,8 | 1068,9 | 1099,5 |
4 | 1122.1 | 1119,9 | 110.3 | 1086.0 | 1103.0 |
5 | 1115,6 | 1123.6 | 103,9 | 1080.7 | 1114.8 |
6 | 1136.6 | 1113.2 | 101,2 | 1068.8 | 1103.6 |
7 | 1129.5 | 1112.4 | 105,3 | 1079,0 | 1108.0 |
Durchschnitt | 1124.3 | 1117.6 | 108,2 | 1076,5 | 1110.0 |
Standardabweichung | 8,61 | 4.03 | 4,99 | 6.54 | 10,82 |
RSD | 0,77% | 0,36% | 4,62% | 0,61% | 0,98% |
Sekundärfilter für Pb-Element (Stahlsubstratproben), Probe: Stahl (Pb 113ppm)
1.Röntgenstrahlung von der primären Röntgenröhre wird durch einen Kollimator auf die Probe gestrahlt.
2.Erregungseigenschaften der primären Röntgenstrahlung der in der Probe enthaltenen Röntgenstrahlen durch den sekundären Kollimator in den Detektor
3. Durch den Detektor verarbeitet und Fluoreszenzspektroskopiedaten gebildet
4. Computerspektroskopie-Datenanalyse, qualitative und quantitative Analyse ist abgeschlossen
Modell | NB-8010 | |
Analyse Prinzip | Energiedispersive Röntgenfluoreszenz Analyse | |
Elementbereich | S (16)U (92) irgendein Element | |
Probe | Kunststoff / Metall / Folie / massiv / Flüssigkeit / Pulver usw., beliebige Größe und unregelmäßige Form | |
Röntgenröhre | Ziel | Mo |
Röhrenspannung | (5-50) kV | |
Röhrenstrom | (10-1000)uA | |
Probenbestrahlung Durchmesser | F1mm-F7mm | |
Filter | 15 Sätze zusammengesetzter Filter ist automatisch ausgewählt, und die automatische Konvertierung | |
Detektor | Importe aus den USA Si-PIN-Detektor | |
Die Datenverarbeitung Leiterplatte | Einfuhren aus den Vereinigten Staaten, mit die Verwendung von Si-PIN-Detektorsets | |
Probe Überwachung | Mit 300.000-Pixel-CCD-Kamera | |
Die Probenkammer Größe | 490 (L)´430 (W)´150 (Std.) | |
Analyse Methode | Lineare lineare, quadratische Codezeilen, Stärke- und Konzentrationskalibrierungskorrektur | |
Betriebssystem Software | Windows XP, Windows 7 | |
Datenmanagement | Excel-Datenverwaltung, Prüfberichte, PDF / Excel-Format gespeichert | |
Arbeiten Umgebung | Temperatur: £30°C. Luftfeuchtigkeit70% | |
Gewicht | 55kg | |
Maße | 550´450´395 | |
Stromversorgung | AC220V±10%,50/60Hz | |
Festlegung Bedingungen | Atmosphärische Umgebung |