Rasterkraft-AFM-Mikroskop
Atomic Force Microscope (AFM), ein analytisches Instrument, mit dem die Oberflächenstruktur fester Materialien, einschließlich Isolatoren, untersucht werden kann.Es untersucht die Oberflächenstruktur und die Eigenschaften einer Substanz, indem es die extrem schwache interatomare Wechselwirkung zwischen der Oberfläche der zu testenden Probe und einem mikrokraftempfindlichen Element detektiert.Wird ein Paar von schwachen Kräften extrem empfindlichen Mikroauslegerendes befestigt, das andere Ende der kleinen Spitze nahe der Probe, dann wird es mit ihr interagieren, die Kraft wird die Mikroauslegerdeformation oder den Bewegungszustand ändern.Beim Abtasten der Probe kann der Sensor verwendet werden, um diese Änderungen zu erkennen, wir können die Kraftverteilungsinformationen erhalten, um die Oberflächenmorphologie von Nanoauflösungsinformationen und Oberflächenrauheitsinformationen zu erhalten.
★ Integrierte Scanning-Sonde und Probenstag verbessert die Anti-Interferenz-Fähigkeit.
★ Präzisionslaser und Sondenpositioniergerät machen das Wechseln der Sonde und das Einstellen des Spots einfach und bequem.
★ Durch Annähern der Probensonde könnte die Nadel senkrecht zum Abtasten der Probe stehen.
★ Vertikale Annäherung der Probensonde mit automatischer Impulsmotorsteuerung, um eine präzise Positionierung des Scanbereichs zu erreichen.
★ Der interessierende Probenscanbereich kann durch das Design eines hochpräzisen mobilen Probengeräts frei bewegt werden.
★ Das CCD-Beobachtungssystem mit optischer Positionierung ermöglicht eine Echtzeitbeobachtung und Positionierung des Abtastbereichs der Sonde.
★ Das Design des elektronischen Kontrollsystems der Modularisierung erleichterte die Wartung und die kontinuierliche Verbesserung der Schaltung.
★ Die Integration des Steuerkreises des mehrfachen Abtastmodus, arbeitet mit dem Softwaresystem zusammen.
★ Federaufhängung, die einfach und praktisch die Entstörungsfähigkeit verbessert.
| Arbeitsmodus | FM-Tapping, optional Kontakt, Reibung, Phase, magnetisch oder elektrostatisch |
| Größe | Φ≤90mm,H≤20mm |
| Reichweite | 20 mm in XY-Richtung,2 mm in Z-Richtung. |
| Scanauflösung | 0,2 nm in XY-Richtung,0,05 nm in Z-Richtung |
| Bewegungsbereich der Probe | ±6,5 mm |
| Impulsbreite der Motoranläufe | 10±2ms |
| Bildabtastpunkt | 256×256,512×512 |
| Optische Vergrößerung | 4X |
| Optische Auflösung | 2,5 mm |
| Scanrate | 0,6 Hz ~ 4,34 Hz |
| Scanwinkel | 0°~360° |
| Scansteuerung | 18-Bit-D/A in XY-Richtung,16-Bit-D/A in Z-Richtung |
| Datenbemusterung | 14-bitA/D,Doppel16-Bit-A/D-Mehrkanal-Synchronabtastung |
| Feedback | Digitales DSP-Feedback |
| Feedback-Abtastrate | 64,0 kHz |
| Computerschnittstelle | USB2.0 |
| Betriebsumgebung | Windows98/2000/XP/7/8 |